描述：霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量，霍爾效應測試儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。
霍爾效應測試儀產品簡介：
霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量，變溫霍爾實驗儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。
霍爾效應測試儀采用現(xiàn)代電子技術和計算機數(shù)據采集系統(tǒng)，對霍爾樣品鉆弱場條件下進行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量，來確定半導體材料的各種性質。
霍爾效應測試儀技術參數(shù)：
電 磁 鐵：0-300mT可調
勵磁電源：0-5A可調，可自動換向
穩(wěn) 定 性：<±0.1%
數(shù)字特斯拉計：0-2000mT三位半數(shù)字顯示
恒流源輸出：1mA
穩(wěn) 定 性：±0.1%
數(shù)據采集系統(tǒng)霍爾電壓測量分辨率：1uV
溫度變化測量范圍：80-400K
工作電源：AC 220V;50Hz
功率范圍：200W
霍爾效應測試儀實驗裝置：
變溫霍爾測試儀主要是由電磁鐵、可自動換向穩(wěn)流源、恒溫器、測溫控溫系統(tǒng)、數(shù)據采集及數(shù)據處理系統(tǒng)等。
